2.4.1 - 淬灭校正曲线（道比法）

2.4 - 仪器校准程序

2.4.1 - 淬灭校正曲线（道比法）

2026年10月8日

概述

为采用道比法获得淬灭校正曲线，需按照图3要求，将标准样品（例如3H）在两个不同的能量测量道中完成测量。通过高能道计数率与全能量道计数率计算比值（RN (1)/RN (2)，也可取反向比值），该比值即为淬灭参数。

为保证淬灭校正结果准确，校准用标样与待测样品必须使用相同的闪烁液、相同类型及规格的样品瓶，且样品总体积保持一致。更多理论内容参见1.2章节。

材料与设备

       CHCl3（三氯甲烷）或硝基甲烷

       3H（氚）或14C（碳14）标准源

 操作步骤

1. 在选定测量道下对标准样品进行测量。

2. 向标样中逐步递增加入淬灭剂（如三氯甲烷（CHCl3）、硝基甲烷（CH3NO2）），依次加入体积：50μL、50μL、100 μL、100 μL、200 μL，每添加一次淬灭剂后重复测量。

3. 在完全一致的道设置条件下测量未知样品，并计算其道比值。

表4：淬灭校正曲线测试数据

应选择合适测量时间，使统计偏差满足2σ <0.5%（约160 000次计数）。

 数据处理

根据全能量道（2道）的计数率以及标准样品已知活度，计算计数效率；将计数效率对道比值作图，得到淬灭校正曲线（图12）。

利用生成的校正曲线，通过插值法求出未知样品对应的计数效率。

同理，可同时记录仪器专属淬灭参数QP（例如H#、tSIE），并绘制该淬灭参数与计数效率的对应关系曲线。

图12：淬灭校正曲线

引用信息： 

HIDEX公司官网：

1. https://www.hidex.com/hidex-methods/measuring-procedures/instrument-calibration-procedures/quench-correction-curves-channel-ratio-method

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